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雙折射量測儀
Photonic-lattice




 廠 商
株式会社フォトニックラティス
PHOTONIC LATTICE, INC.
型 號
WPA-100、WPA-100L、WPA-micro、PA-110、PA-110L、PA-micro
簡 介
PA與WPA系列可測量透明物體(如鏡片、光碟、導光板等)面內的雙折射分佈及位相差大小,經電腦自動計算得到量化值,測量範圍達到整面測量,並且最快2秒鐘得到測量結果。「手動旋轉偏光板以肉眼辨視明暗」的方法,既不客觀、又無法標準化、檢驗規範不明確而容易與客戶產生良品爭議等等問題,在PA/WPA都可獲得解決。
原 理
強力內部應力或扭曲的結晶構造等原因造成折射率因方向不同所表現的數值差異—此即稱為雙折射。光通過具有雙折射性質的透明物體後,會使偏光狀態發生改變(即光彈性原理)。換言之,比較光穿透該物體前後時的偏光狀態,可以對該物體的雙折射進行的分析。
 
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